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东莞市天测光学设备有限公司

公司专业从事美国QVI产品、法国Keron 关节臂三坐标测量仪、等国际著名品牌测量仪器...

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首页 > 供应产品 > Pinnacle+ Plus 超高精度的尺寸测量系统
Pinnacle+ Plus 超高精度的尺寸测量系统
浏览: 64
品牌: QVI VIEW
X,Y,Z 行程 (mm): 250 x 150 x 50
X,Y,Z 光栅尺分辨率: XY - 0.05 μm
速度: X,Y - 100 mm/sec / Z - 25 mm/sec
单价: 面议
最小起订量: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 30 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-02-28 16:28
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详细信息

VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级

Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.

最先进的线性马达控制技术造就了运行速度最快,最为可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。

 

特征:

X,Y,Z 行程 (毫米):250 x 150 x 50

X,Y,Z 光栅尺分辨率:XY - 0.05 μm, 零膨胀材料,Z - 0.01μm, 零膨胀材料

平台驱动系统:无摩擦高速线性马达驱动 X&Y, 直流伺服马达驱动 Z

最大速度:X,Y - 100 mm/sec   /   Z - 25 mm/sec

最大承载量:25 kg

光学系统 :单倍放大, 工厂安装背光的镜头和视场交换式前透镜标配为VIEW 1X 背管,5X镜头

计量软件

可选项: Elements

可选项Measure-X

 

可选项软件模块:

区域多点自动ju jiao

连续捕获图像 (CIC)

先进的图像滤光和图像拼接,自定义

UI操作软件

MeasureFit   Plus

 

SmartProfile

3D GD&T 评估软件

VMS 离线编程软件

数字输入/输出Digital I/O

 

Benchmark的应用范围包括:

半导体/电子

BGA, μBGA, CSP, 倒装xin片, MCM, bump-on-die

引线框,引线接合,柔性线路板,连接器

SMT元件贴装

锡膏/环氧数脂胶点

xin片载体和托盒

喷墨打印机墨盒

光纤组件和MEMs

数据存储

悬置件

滑块和悬臂组(HGA)

磁盘介质基板

精密注塑和机加工件

模具和刀具

医疗设备

燃料喷射部件

手表组件

                                 


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